第一章 光学基本概念
第一节 光的性质与传播
第二节 自然光和偏光
第三节 光的折射与全反射
第四节 折射率与折射率仪
第五节 光的双折射
第六节 一轴晶和二轴晶
第二章 光率体
第一节 光率体
第二节 一轴晶光率体
第三节 二轴晶光率体
第四节 光率体的主要参数
第五节 光性方位
第三章 偏光显微镜
第一节 偏光显微镜的构造
第二节 偏光显微镜的光学系统
第三节 偏光显微镜的调节
第四节 薄片的制作
第四章 单偏光系统下晶体的光学性质
第一节 形态
第二节 解理
第三节 选择性吸收
第四节 界面
第五章 正交偏光系统下晶体的光学性质
第一节 消光
第二节 干涉原理
第三节 干涉色
第四节 干涉色级别的确定
第五节 补色原理与补色器
第六节 消光类型与消光角
第七节 延性
第八节 双晶
第六章 聚敛偏光系统下晶体的光学性质
第一节 聚敛偏光系统
第二节 一轴晶矿物的干涉图
第三节 二轴晶矿物的干涉图
第四节 光率体色散
第六章 聚敛偏光系统下晶体的光学性质
第一节 聚敛偏光系统
第二节 一轴晶矿物的干涉图
第三节 二轴晶矿物的干涉图
第四节 光率体色散
第七章 实验
实验一 薄片中常见矿物的光性特征
实验二 偏光显微镜的认识和校正
实验三 矿物折射率相对高低比较、解理角测量、多色性和吸收性观察
实验四 干涉色级序的确定、消光角的测定、多色性和吸收性公式的测定
实验五 一轴晶干涉图的认识及光性符号的测定
实验六 二轴晶干涉图的认识及光性符号的测定
实验七 偏光显微镜下矿物主要光性的系统测定
参考文献
《晶体光学》词汇的中英对照及其索引
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